Przejdź do głównej treści
Darmowa dostawa od 999 zł
Zamknij wyszukiwarkę Wyczyść Szukaj
Produkty w koszyku: 0. Zobacz szczegóły

Twój koszyk jest pusty

Wydawnictwo Naukowe PWN

Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Wydawnictwo Naukowe PWN

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono: aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar; podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej; zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych; aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów; badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania; aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium; sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania; laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności; przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia.

Przejdź do pełnego opisu
Przejdź do sekcji Opinie
Czas wysyłki: 24 godziny
Cena 143,99 zł
szt.
Dostępność:
product-availability-module na wyczerpaniu
Zapytaj o produkt
Udostępnij

Opis

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono: aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar; podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej; zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych; aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów; badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania; aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium; sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania; laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności; przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.

W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych.

Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.



Autorzy: Janusz Piotrowski, Krystyna Kostyrko
Data premiery: 2012-10-10
EAN: 9788301170516
Format: 238x168 mm
Ilość stron: 580
ISBN: 9788301170516
Oprawa: twarda
Rok wydania: 2012
Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN

Opinie

Liczba ocen: 0
Oceń i opisz